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日本MITUTOYO二次元彩色測量儀QUICK IMAGE搭載2000萬像素CMOS傳感器與RGB三色LED環形光源，實現±1μm/m的二維尺寸測量精度。其智能對焦系統可在3秒內完成20-200mm變倍范圍內的自動聚焦，配合色彩分析算法，精準識別工件表面劃痕、色差等缺陷。標準測量范圍300×200mm，支持CAD圖紙對比和SPC數據分析，特別適用于電子接插件、印刷電路板等彩色工件的快速批量檢測
日本MITUTOYO微細形狀測定系統 UMAP是集成共聚焦顯微鏡與白光干涉技術的納米計量平臺，采用多傳感器融合架構實現0.001μm~10mm跨尺度測量。其革命性的自適應光學補償模塊可消除環境振動影響，在±0.5℃溫變條件下仍保持0.005μm重復性精度。標配智能三維重構軟件，支持IC封裝凸點、微流控芯片等復雜微結構的自動特征提取與GD&T分析。
日本MITUTOYO微細形狀掃描探針圖像測量機采用接觸式探針與光學顯微成像融合技術，實現0.01μm級三維形貌重構。其智能壓力控制探針系統可自動調節5-500μN測量力，適用于半導體微結構、MEMS器件等脆弱樣品的無損檢測。搭配高速激光位移傳感器，同步完成表面粗糙度（Ra 0.01-10μm）與微觀尺寸的復合測量。
日本MITUTOYO 大型CNC畫像測量機 QV ACCEL是面向大批量檢測的智能型CNC影像測量系統，搭載高剛性龍門結構與直線電機驅動，實現1000×800×600mm大行程下±1.5μm/m定位精度。其加速控制算法使測量速度提升40%，配合AI視覺引導系統可自動完成復雜輪廓的批量檢測。
日本MITUTOYO 白光干涉儀QUICK WLI Pro系列是融合白光干涉技術與影像測量的復合系統，采用頻域分析算法實現0.1nm垂直分辨率，專用于超精密表面形貌檢測。其創新性的雙模式探頭可在同一坐標系下完成2D尺寸測量與3D粗糙度分析，支持臺階高度、薄膜厚度等納米級參數測量。Pro系列升級環境振動補償系統，在車間環境下仍保持±0.5nm重復精度，配合智能光強調節模塊，可穩定測量鏡面、啞光等。
日本MITUTOYO QVH1 HYPER 302/404/606 Pro是新一代復合型高精度影像測量系統，搭載納米級閉環光柵尺與主動溫控平臺，實現±0.1μm重復精度（302機型）。全系標配STREAM無停頓掃描技術，通過XY軸與頻閃照明同步，提升30%測量效率。專業版集成非接觸式色差傳感器，支持金屬、陶瓷等多材質3D形貌分析，并配備AI驅動的實時工藝偏差預警模塊。
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